Entwicklung einer programmierbaren Spannungsquelle (Spannung und Strom) zur Verwendung innerhalb eines Testsystems, welches zur Messung von statischen und dynamischen Parametern von Integrierten Schaltungen auf dem Wafer und im Finaltest verwandt wird.
Diese Quellen werden verwandt zur Versorgung des IC’s, welcher auf dem Testsystem geprüft werden soll.
Die Quelle wurde in das Testsystem so integriert, dass die Programmierung über das Betriebssystem des Testers unverändert bleiben konnte.